Суродин Сергей Иванович

Место работы

Отдел фундаментальных и прикладных исследований

Научно-образовательный центр "Физика твердотельных наноструктур"

Научно-исследовательская лаборатория сканирующей зондовой микроскопии

старший научный сотрудник

Ученая степень
Кандидат физико-математических наук
Ученое звание
нет

Общие сведения

Научная Работа


Образование, учёные степени и учёные звания

Высшее образование
магистр. Специальность: Электроника и наноэлектроника. Квалификация: магистр.

Список преподаваемых дисциплин

Публикации

2017

Труды (тезисы) конференции

Ершов А.В., Суродин С.И., Боряков А.В., Николичев Д.Е., Пирогов А.В., Павлов Д.А. Модификация химического и фазового состава многослойных наноструктур SiOx/ZrO2 при высокотемпературном отжиге // Нанофизика и наноэлектроника. Материалы XXI международного симпозиума. Нижний Новгород, 13-16 марта 2017 г. Издательство ННГУ им. Н.И. Лобачевского, т. 2. 2017. С. 586–587.

Королев Д.С., Никольская А.А., Белов А.И., Суродин С.И., Николичев Д.Е., Нежданов А.В., Маркелов А.С., Шушунов А.Н., Усов Ю.В., Павлов Д.А., Михайлов А.Н., Тетельбаум Д.И. Формирование нановключений нитрида галлия при имплантации ионов галлия и азота в кремний и кремний-совместимые диэлектрические пленки // Тезисы докладов, 11 Всероссийская конференция «Нитриды галлия, индия и алюминия – структуры и приборы. Москва, 1-3 февраля. 2017. С. 146-147.

Публикации в научных журналах

Боряков А.В., Суродин С.И., Николичев Д.Е., Ершов А.В. Химический и фазовый состав многослойных нанопериодических структур a-SiOx/ZrO2, подвергнутых высокотемпературному отжигу // Физика твердого тела. № 6. Т. 59. 2017. С. 1183-1191.

Korolev D.S., Mikhaylov A.N., Belov A.I., Konakov A.A., Vasiliev V.K., Nikolichev D.E., Surodin S.I., Tetelbaum D.I. Composition and luminescence of Si and SiO2 layers co-implanted with Ga and N ions // International Journal of Nanotechnology. № 7-8. V. 14. 2017. P. 637-645.

2016

Труды (тезисы) конференции

Королев Д.С., Белов А.И., Окулич Е.В., Никольская А.А., Суродин С.И., Николичев Д.Е., Нежданов А.В., Усов Ю.В., Павлов Д.А., Маркелов А.С., Трушин В.Н., Михайлов А.Н., Тетельбаум Д.И., Kumar M. Королев Д.С., Белов А.И., Окулич Е.В., Никольская А.А., Суродин С.И., Николичев Д.Е., Нежданов А.В., Усов Ю.В., Павлов Д.А., Маркелов А.С., Трушин В.Н., Михайлов А.Н., Тетельбаум Д.И., Kumar M. Формирование нанокластеров в кремнии и оксидных пленках на кремнии, имплантированных Ga и N // Физические и физико-химические основы ионной имплантации: Тез. докл. VI Всерос. конф. и шк. молодых ученых и специалистов, Нижний Новгород, 24–27 окт. 2016 г. Н. Новгород. : Изд-во Нижегорд. госун-та. 2016. 141 с. 2016. С. 62-63.

Суродин С.И., Николичев Д.Е., Крюков Р.Н., Белов А.И., Королев Д.С., Михайлов А.Н., Тетельбаум Д.И. Распределение химического состава по глубине в кремнии,имплантированном ионами галлия и азота // XX научный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника", г. Нижний Новгород, 14-18 марта. Т.2, Изд-во ННГУ. 2016. С. 741-742.

Суродин С.И., Николичев Д.Е., Крюков Р.Н., Королев Д.С. Профилирование по глубине химического состава структур, полученных методом имплантации ионов Ga и N в кремний и кремний-совместимые диэлектрические матрицы. // Физические и физико-химические основы ионной имплантации, г. Нижний Новгород, 24-27 октября. Изд-во ННГУ. 2016. С. 91.

Публикации в научных журналах

Королев Д.С., Михайлов А.Н., Белов А.И., Васильев В.К., Гусейнов Д.В., Окулич Е.В., Шемухин А.А., Суродин С.И., Николичев Д.Е., Нежданов А.В., Пирогов А.В., Павлов Д.А., Тетельбаум Д.И. Послойный состав и структура кремния, подвергнутого совместной ионной имплантации галлия и азота для ионного синтеза GaN // Физика и техника полупроводников. № 2. Т. 50. 2016. С. 274-278.

Rajamani S., Korolev D.S., Belov A.I., Surodin S.I., Nikolitchev D.E., Okulich E.V., Mikhaylov A.N., Tetelbaum D.I., Kumar M. Effect of annealing on carrier transport properties of GaN-incorporated silicon // RSC Advances. V. 6. 2016. P. 74691.

Surodin S.I., Nikolitchev D.E., Kryukov R.N., Belov A.I., Korolev D.S., Mikhaylov A.N., Tetelbaum D.I. Distribution of species and Ga–N bonds in silicon co-implanted with gallium and nitrogen ions // AIP Conference Proceedings. V. 1748. 2016. P. 050005.

Fukina D.G., Suleimanov E.V., Yavetskiy RP, Boryakov A.V., Surodin S.I., Fukin G.K., Sakharov N.V., Borisov EN, Borisov EV Single crystal structure and SHG of defect pyrochlores (CsBMoO6)-Mo-V (B-V = Nb,Ta) // Journal of Solid State Chemistry. V. 41. 2016. P. 64-69.

Korolev D.S., Mikhailov A.N., Belov A.I., Vasilyev V.K., Guseinov D.V., Okulich E.V., Shemmukhin A.A., Surodin S.I., Nikolichev D.E., Nezhdanov A.V., Pirogov A.V., Pavlov D.A., Tetelybaum D.I. Layer-by-Layer Composition and Structure of Silicon Subjected to Combined Gallium and Nitrogen Ion Implantation for the Ion Synthesis of Gallium Nitride // Semiconductors. № 2. V. 50. 2016. P. 271-275.

2015

Труды (тезисы) конференции

Суродин С.И., Тетельбаум Д.И., Михайлов А.Н., Николичев Д.Е., Крюков Р.Н., Королев Д.С., Белов А.И. Исследование химического состава кремния, имплантированного ионами галлия и азота // XX Нижегородская сессия молодых ученых. Естественные, математические науки. Княгинино : НГИЭУ. – 2015. – 218 с.. 2015. С. 60-63.

Tetelbaum D.I., Korolev D.S., Mikhaylov A.N., Belov A.I., Vasilyev V.K., Guseinov D.V., Okulich E.V., Surodin S.I., Nikolichev D.E., Nezhdanov A.V., Pirogov A.V., Pavlov D.A., Konakov A.A., Shemukhin A., Ranwa S., Kumar M. Si and Si-compatible dielectric films subjected to Ga+N co-implantation: towards the Si-based technology of nc-GaN fabrication // 18th International Conference on Radiation Effects in Insulators (REI-18), Dates: 26th to 31st October, 2015. Book of Abstracts. Jaipur, Rajasthan, India. 2015. P. 238.

Публикации в научных журналах

Sergeev V.A., Korolev D.S., Mikhaylov A.N., Belov A.I., Vasilyev V.K., Smirnov A.E., Nikolichev D.E., Surodin S.I., Guseinov D.V., Nezhdanov A.V., Markelov A.S., Trushin V.N., Pirogov A.V., Pavlov D.A., Tetelbaum D.I. Ion-beam synthesis of GaN in silicon // Journal of Physics: Conference Series. № 643. V. 1. 2015. P. 012082.

2014

Труды (тезисы) конференции

Николичев Д.Е., Боряков А.В., Суродин С.И., Ершов А.В. Исследование многослойных наноструктур на основе SiOx/ZrO2 методами электронной спектроскопии и микроскопии // Тезисы XXV Росс. конференции по электронной микроскопии «РКЭМ-2014», 2–6 июня Черноголовка.. Т.1, 2 стр.,. 2014. С. 228.

Суродин С.И., Боряков А.В., Спирин Д.Е., Ершов А.В., Михайлов А.Н. Исследование химического состава пленки SiOx, имплантированной ионами C+ и подвергнутой импульсному фотонному отжигу // Физические и физико-химические основы ионной имплантации: тезисы докладов V Всероссийской конференции и школы молодых ученых и специалистов (Нижний Новгород, 27–31 октября 2014 г.). Нижний Новгород: ННГУ. 142 с. 2014. С. 116-117.

Surodin S.I., Boryakov A.V., Nikolichev D.E., Ershov A.V. Chemical composition of multilayer nanostructures based on SiOx/ZrO2 studying by X-ray photoelectron spectroscopy // 1st International School and Conference “Saint-Petersburg OPEN 2014”: Optoelectronics, Photonics, Engineering and Nanostructures (March 25-27, 2014. Russia, Saint-Petersburg). Saint-Petersburg. 2014. P. 109-110.

Суродин С.И., Боряков А.В., Николичев Д.Е., Ершов А.В. Исследование химического состава многослойных наноструктур на основе SiOx/ZrO2 методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии // Тезисы докладов Третьей школы молодых ученых по физике наноструктурированных и кристаллических материалов (15-17 мая 2014 г. Россия, г. Нижний Новгород). Нижний Новгород: ННГУ. 2014. С. 151-152.

2013

Труды (тезисы) конференции

Зубков С.Ю., Боряков А.В., Ершов А.В., Николичев Д.Е., Суродин С.И. Состав многослойных нанопериодических структур на основе ZrO2 и SiO // Тез. докл. XVIII Росс. симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел «РЭМ-2013», 3–7 июня 2013. Черноголовка. 2013. С. 284-285.

Николичев Д.Е., Боряков А.В., Дорохин М.В., Суродин С.И. Состав структур спиновых светоизлучающих диодов на основе GaMnAs // Тез. докл. XVIII Росс. симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел «РЭМ-2013», 3–7 июня Черноголовка.. 2013. С. 75-76.

Суродин С.И., Боряков А.В. Исследование химического состава многослойных наноструктур на основе SiOx/ZrO2 методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии // XV Всероссийская молодежная конференция по физике полупроводников и наноструктур, полупроводниковой опто- и наноэлектронике: тезисы докладов. 25-29 ноября 2013 г. Россия, г. Санкт-Петербург, СПбГПУ.. Санкт-Петербург: Издательство Политехнического университета. 2013. С. 68.

Публикации в научных журналах

Николичев Д.Е., Боряков А.В., Зубков С.Ю., Дорохин М.В., Кудрин А.В., Здоровейщев А.В., Суродин С.И., Дроздов М.Н Диагностика методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии состава наносистем спинтроники на основе полупроводников GaAs со спин-инжектирующим слоем GaAs // Вестник Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского. № 1. 2013. С. 48-52.

Боряков А.В., Николичев Д.Е., Суродин С.И., Чугров И.А., Семерухин М.А., Белов А.И., Михайлов А.Н., Ершов А.В., Теруков Е.И., Тетельбаум Д.И. Диагностика химического и фазового состава тонкопленочных структур с нанокристаллами кремния в матрице ZrO2 методами электронной спектроскопии // Вестник Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского. № 2 (2). 2013. С. 52-57.

2012

Публикации в научных журналах

Николичев Д.Е., Боряков А.В., Суродин С.И., Чугров И.А., Семерухин М.А., Белов А.И., Михайлов А.Н., Теруков Е.И., Тетельбаум Д.И. Диагностика химического и фазового состава тонкопленочных структур с нанокристаллами кремния в матрице ZrO2методами электронной спектроскопии // Вестник ННГУ им. Н.И. Лобачевского. 2012. [принято к печати]

Николичев Д.Е., Боряков А.В., Зубков С.Ю., Дорохин М.В., Кудрин А.В., Здоровейщев А.В., Суродин С.И., Дроздов М.Н. Диагностика методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии состава наносистем спинтроники на основе полупроводников GaAs со спин-инжектирующим слоем GaMnAs // Вестник ННГУ им. Н.И. Лобачевского. 2012. [принято к печати]

©  Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского